近年來(lái),隨著優(yōu)技術(shù)產(chǎn)業(yè)的迅猛發(fā)展和科研領(lǐng)域的不斷拓寬,在工業(yè)生產(chǎn)及科學(xué)研究中出現(xiàn)了越來(lái)越多與顆粒直徑及其分布有關(guān)的技術(shù)問(wèn)題。為了改善產(chǎn)品性能、提高產(chǎn)品質(zhì)量、控制生產(chǎn)工藝、降低能耗等,無(wú)論化工、醫(yī)藥、機(jī)械、電子、冶金還是建材、輕工、環(huán)保等諸多行業(yè)都遇到了顆粒直徑及其分布測(cè)量的有關(guān)問(wèn)題,GSL-101BI 激光顆粒分布測(cè)量?jī)x正是為了解決各行業(yè)對(duì)粒度測(cè)試的需求而開發(fā)研制的一種新型粒度測(cè)量?jī)x器,經(jīng)過(guò)我所數(shù)年的研究,解決了諸如Mie散射,大尺寸光電探測(cè)陣列等一系列的技術(shù)難點(diǎn),使儀器的性能指標(biāo)有了大幅度的提高,達(dá)到90年代同類儀器的設(shè)計(jì)水平。
1.1 特點(diǎn)
本儀器的原理是Furanhofer衍射及Mie散射理論,由上述原理決定了本儀器在測(cè)試過(guò)程不受環(huán)境溫度變化、介質(zhì)黏度、試樣密度等諸多因素的影響,只要將待測(cè)試樣均勻地展現(xiàn)于激光束中,即可獲得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。而且區(qū)別于沉降法,由于不需要沉降過(guò)程,因此在一次測(cè)試中可以多次采樣(5~20次任意設(shè)定),有效濾除了由于電噪聲,試樣分布不均等因素造成的影響,使儀器的測(cè)試重復(fù)性更好。
由于采用了大尺寸主光電探測(cè)陣列(70個(gè)通道)、側(cè)向輔助光電探測(cè)陣列(12個(gè)通道)及其它相應(yīng)技術(shù),使單透鏡測(cè)量范圍達(dá)0.15~400微米,并且由于本儀器使用過(guò)程中無(wú)須更換鏡頭和調(diào)整光學(xué)系統(tǒng),提高了儀器的工作穩(wěn)定性,簡(jiǎn)化了操作過(guò)程。
半導(dǎo)體激光器具有光參數(shù)穩(wěn)定、效率高、壽命長(zhǎng)、不怕振動(dòng)等一系列優(yōu)點(diǎn),克服了傳統(tǒng)He-Ne氣體激光器由于自然漏氣,需定期更換的缺點(diǎn)。
本儀器采用微機(jī)進(jìn)行實(shí)時(shí)控制,自動(dòng)完成數(shù)據(jù)采集、分析處理、結(jié)果保存和打印等功能,操作簡(jiǎn)單,自動(dòng)化程度高。
由于無(wú)須沉降過(guò)程,使測(cè)量時(shí)間大幅度縮小,在通常情況下,1分鐘內(nèi)即可完成一次樣品測(cè)量。
注:不包括樣品制備時(shí)間。
本儀器測(cè)試程序采用MSVC/C++6.0編制,在中文Windows95/98、Windows-XP操作系統(tǒng)下運(yùn)行,操作直觀簡(jiǎn)便,通俗易懂。報(bào)告輸出內(nèi)容豐富,并且可以輸出英文測(cè)量報(bào)告,對(duì)于彩色打印機(jī)還可以輸出彩色測(cè)量報(bào)告。
1.2 儀器規(guī)格
1.2.1 常規(guī)要求
1.2.2 激光器
1.2.3 光電探測(cè)陣列
1.2.4 測(cè)量范圍
1.2.5 計(jì)算機(jī)及打印機(jī)
重要提示:儀器標(biāo)準(zhǔn)配置中不含計(jì)算機(jī)和打印機(jī),需用戶自行購(gòu)買,本節(jié)內(nèi)容為用戶購(gòu)買計(jì)算機(jī)提供參考指標(biāo)。
1.2.6 數(shù)學(xué)模型
1.2.7 進(jìn)樣方式
重要提示:儀器標(biāo)準(zhǔn)配備微量進(jìn)樣裝置,循環(huán)進(jìn)樣裝置需要另行向本所購(gòu)買。說(shuō)明書中有許多關(guān)于循環(huán)進(jìn)樣裝置的介紹,如果您及貴單位沒(méi)有購(gòu)買循環(huán)進(jìn)樣裝置,關(guān)于循環(huán)進(jìn)樣裝置部分的介紹可以不必閱讀。
1.2.8 性能
注:重復(fù)性、準(zhǔn)確度指標(biāo)的計(jì)算方法按附錄A。
1.3 顆粒粒徑的表示方法及簡(jiǎn)單原理
1.3.1
對(duì)于自然界中粉體物料,通常都是包含各種不同粒徑的顆粒的集合,即顆粒群。如果在粉體中隨機(jī)選取某一個(gè)顆粒,其粒徑在某一范圍內(nèi)隨機(jī)取值,但對(duì)于整個(gè)顆粒群,某一粒徑或某一粒徑范圍內(nèi)的顆粒在整個(gè)粉體中所占的比例是固定的,因此可以用統(tǒng)計(jì)學(xué)的方法來(lái)表示顆粒群的粒度分布,相應(yīng)的指標(biāo)稱為頻率分布和累積頻率分布,粒度分布指標(biāo)可以取個(gè)數(shù)、長(zhǎng)度、面積、或體積(重量)等4個(gè)參數(shù)之一作為基準(zhǔn)。
注意:
a):所謂個(gè)數(shù)為基準(zhǔn),是指某一粒徑或某一粒徑范圍內(nèi)顆粒的個(gè)數(shù)在顆粒總個(gè)數(shù)中所占的比例,同理可以定義長(zhǎng)度、面積和體積(重量)基準(zhǔn)。
b):粒度分布的基準(zhǔn)取決于粒度分布的測(cè)定原理,如顯微鏡法的測(cè)量結(jié)果以個(gè)數(shù)分布為基準(zhǔn);激光散射法以體積(重量)為基準(zhǔn)等,因此,即使對(duì)于同一種粉體,由于采用的粒度測(cè)量原理的不同,測(cè)量結(jié)果的含義自然也不同,所以測(cè)量出的數(shù)據(jù)必然也可能有所差別。
1.3.2 頻率分布
被測(cè)樣品中某一粒徑或某一粒徑范圍內(nèi)的顆粒個(gè)數(shù) n (以個(gè)數(shù)為基準(zhǔn)),與該樣品的顆粒總數(shù) N 之比稱為該粒徑或該粒徑范圍的頻率分布 f 。
1.3.3 累積分布
頻率分布是表示某一粒徑或某一粒徑范圍內(nèi)的顆粒在全部顆粒中占的百分比,而累積分布則表示小于(或大于)某一粒徑的顆粒在全部顆粒中所占的比例。
注:累計(jì)分布分為正累積(用+號(hào)表示)和負(fù)累積(用-號(hào)表示),正累積表示大于某一粒徑的顆粒數(shù)量或者百分?jǐn)?shù);負(fù)累積表示小于某一粒徑的顆粒數(shù)量或百分?jǐn)?shù)。
1.3.4 平均粒徑
除了采用粒度分布的方法表示粉體的粒度特征外,還可以采用一些具有某種含義的粒徑值來(lái)描述這個(gè)粉體樣品,這就是平均粒徑。
1.3.4.1 中位徑
在累積分布曲線上累積頻率為50%處所對(duì)應(yīng)的粒徑,也就是將樣品兩等分處所在的粒徑值。
注:a)在使用 時(shí)應(yīng)指明使用的基準(zhǔn),不同原理和測(cè)量方法給出累積分布的基準(zhǔn)是不同的,因此對(duì)于同一種樣品,不同原理和測(cè)試方法得到的 不具可比性。
注:b)同理可以得知、、、 、 、等數(shù)據(jù)的含義。
1.3.4.2 加權(quán)平均徑
加權(quán)平均徑是根據(jù)顆粒群的某種幾何特征推導(dǎo)出來(lái),并具有一定物理意義的推算粒徑,故又稱為物理平均徑,常用的有面積平均徑和質(zhì)量平均徑。
設(shè)顆粒群中某一微分區(qū)間的顆粒粒徑為,其數(shù)量為:
: 面積平均徑,即索太爾徑,其推導(dǎo)公式為:
其物理含義是:顆粒群的總體積除以顆粒群的總面積,理解為:用一個(gè)假想的尺寸均一的顆粒群,來(lái)代替原有的顆粒群,每個(gè)顆粒的直徑都為,則假想的顆粒群的總體積和總面積與原有的顆粒群保持一致。
: 質(zhì)量平均徑,也有文章稱為 質(zhì)量平均徑、體積重量平均徑,其推導(dǎo)公式為:。
1.3.5 簡(jiǎn)單原理
GSL-101BI 激光顆粒分布測(cè)量?jī)x是以物理學(xué)上富朗和菲衍射(Fraunhofer diffraction)和米氏散射( Mie scattering )為理論基礎(chǔ)。此理論可以簡(jiǎn)單理解為:沿直線傳播的平行激光束,在傳播過(guò)程中遇到顆粒的遮擋后,發(fā)生了衍射和散射現(xiàn)象,并且大顆粒光散射角小,小顆粒光散射角大。見(jiàn)圖1-1為單個(gè)顆粒形成的衍射圖案,顆粒直徑越大,中心亮環(huán)越小,顆粒直徑越小,中心亮環(huán)越大。如果能在不同角度上接收光能,對(duì)于相應(yīng)的角度,其光能是對(duì)應(yīng)直徑的顆粒集合發(fā)生衍射(散射)造成的,相應(yīng)其它角度上光能的強(qiáng)弱也就反應(yīng)了對(duì)應(yīng)直徑顆粒在整個(gè)顆粒集合中占有的比例,根據(jù)在不同角度上接收的散射光強(qiáng)弱,就可以反演出樣品的顆粒分布及各粒級(jí)間相對(duì)含量。
圖1-1
下圖為我所研制的GSL-101BI 型激光顆粒分布測(cè)量?jī)x光路系統(tǒng):
圖 1-2
1.4 使用注意事項(xiàng)
本儀器屬精密測(cè)量?jī)x器,如果未經(jīng)廠家允許,擅自打開機(jī)殼,調(diào)整儀器的任何部件,廠家將不再負(fù)責(zé)保修 !
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